Hyppää sisältöön
    • Suomeksi
    • In English
  • Suomeksi
  • In English
  • Kirjaudu
Näytä aineisto 
  •   Etusivu
  • OSUVA
  • Vaasan yliopiston julkaisut
  • Näytä aineisto
  •   Etusivu
  • OSUVA
  • Vaasan yliopiston julkaisut
  • Näytä aineisto
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Technological change and regulatory heterogeneity : a comparative study on patent infringement analysis in the US, Japan and Korea

Lee, Na Ri (2000)

 

Aineistoon ei liity tiedostoja.


Lee, Na Ri
Vaasan yliopisto
2000
Näytä kaikki kuvailutiedot
Julkaisun pysyvä osoite on
https://urn.fi/URN:NBN:fi-fe2018061125597

Kuvaus

vertaisarvioitu
Kokoelmat
  • Vaasan yliopiston julkaisut [618]
https://osuva.uwasa.fi
Ota yhteyttä | Tietosuoja | Saavutettavuusseloste
 

 

Tämä kokoelma

TekijäNimekeAsiasanaYksikkö / TiedekuntaOppiaineJulkaisuaikaKokoelmat

Omat tiedot

Kirjaudu sisäänRekisteröidy
https://osuva.uwasa.fi
Ota yhteyttä | Tietosuoja | Saavutettavuusseloste