Technological change and regulatory heterogeneity : a comparative study on patent infringement analysis in the US, Japan and Korea

Lee, Na Ri (2000)
 
 
Pikkukuva
 

Aineistoon ei liity tiedostoja.


Lee, Na Ri
Vaasan yliopisto
2000
Näytä kaikki kuvailutiedot
Julkaisun pysyvä osoite on
http://urn.fi/URN:NBN:fi-fe2018061125597

Kuvaus

vertaisarvioitu
Kokoelmat