Hyppää sisältöön
    • Suomeksi
    • In English
  • Suomeksi
  • In English
  • Kirjaudu
Näytä aineisto 
  •   Etusivu
  • OSUVA
  • Artikkelit
  • Näytä aineisto
  •   Etusivu
  • OSUVA
  • Artikkelit
  • Näytä aineisto
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Parametric and nonparametric event study tests : a review

Dutta, Anupam (2014-11-25)

 
Katso/Avaa
article (1.453Mb)
Lataukset: 

URI
https://doi.org/10.5539/ibr.v7n12p136

Dutta, Anupam
Canadian Center of Science and Education (CCSE)
25.11.2014
doi:10.5539/ibr.v7n12p136
Näytä kaikki kuvailutiedot
Julkaisun pysyvä osoite on
https://urn.fi/URN:NBN:fi-fe2020092575816

Kuvaus

vertaisarvioitu
©2014 by the authors. Published by Canadian Center of Science and Education (CCSE). This article is an open access article distributed under the terms and conditions of the Creative Commons Attribution (CC BY) license, http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/, which permits unrestricted use, distribution, and reproduction in any medium, provided the original work is properly cited.
Tiivistelmä
This paper presents a modest attempt to review the existing methodologies for measuring short-run abnormal performance of firms following certain corporate events. In doing so, the study discusses different parametric as well as nonparametric testing procedures available in the literature. Reviewing the prior literature reveals that the nonparametric sign and rank tests are better specified than parametric procedures. However, in case of detecting the short-run anomalies, we document that nonparametric tests have higher power relative to standard parametric approaches.
Kokoelmat
  • Artikkelit [1552]
https://osuva.uwasa.fi
Ota yhteyttä | Lähetä palautetta | Tietosuoja | Saavutettavuusseloste
 

 

Tämä kokoelma

TekijäNimekeAsiasanaYksikkö / TiedekuntaOppiaineJulkaisuaikaKokoelmat

Omat tiedot

Kirjaudu sisäänRekisteröidy
https://osuva.uwasa.fi
Ota yhteyttä | Lähetä palautetta | Tietosuoja | Saavutettavuusseloste