• Suomeksi
    • In English
  • Suomeksi
  • In English
  • Kirjaudu
Hae 
  •   Etusivu
  • OSUVA
  • Hae
  •   Etusivu
  • OSUVA
  • Hae
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Hae

Näytä tarkemmat rajauksetPiilota tarkemmat rajaukset

Rajaukset

Käytä rajauksia tarkentaaksesi hakua.

Aineistot 1-1 / 1

  • Lajitteluvaihtoehdot:
  • Relevanssi
  • Nimeke (Ö-A)
  • Nimeke (A-Ö)
  • Julkaisuaika (nouseva)
  • Julkaisuaika (laskeva)
  • Syöttöaika (nouseva)
  • Syöttöaika (laskevat)
  • Tuloksia per sivu:
  • 5
  • 10
  • 20
  • 40
  • 60
  • 80
  • 100
Pikkukuva

Technological change and regulatory heterogeneity : a comparative study on patent infringement analysis in the US, Japan and Korea 

Lee, Na Ri (Vaasan yliopisto, 2000)
book
https://osuva.uwasa.fi
Ota yhteyttä | Lähetä palautetta
 

 

Tämä kokoelma

TekijäNimekeAsiasanaYksikkö / TiedekuntaOppiaineJulkaisuaikaKokoelmat

Omat tiedot

Kirjaudu sisäänRekisteröidy

Silmäile

Sisältötyyppi
vain metadata
Tieto vertaisarvioinnista
vertaisarvioitu
Sarja
Vaasan yliopiston julkaisuja. Tutkimuksia
Asiasana
Oikeustiede
patentit -- lainsäädäntö (1)
patentointi -- Yhdysvallat -- Japani -- Kore (1)... Katso lisääTekijäLee, Na Ri (1)
https://osuva.uwasa.fi
Ota yhteyttä | Lähetä palautetta