Hae

- Suomeksi
- In English

Suomeksi
In English

Kirjaudu

Etusivu
OSUVA
Hae

Etusivu
OSUVA
Hae

JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Hae

Näytä tarkemmat rajaukset Piilota tarkemmat rajaukset

Rajaukset

Käytä rajauksia tarkentaaksesi hakua.

Aineistot 1-1 / 1

Lajitteluvaihtoehdot:
Relevanssi
Nimeke (Ö-A)
Nimeke (A-Ö)
Julkaisuaika (nouseva)
Julkaisuaika (laskeva)
Syöttöaika (nouseva)
Syöttöaika (laskevat)
Tuloksia per sivu:
5
10
20
40
60
80
100

Technological change and regulatory heterogeneity : a comparative study on patent infringement analysis in the US, Japan and Korea

Lee, Na Ri (Vaasan yliopisto, 2000)
book

https://osuva.uwasa.fi

Ota yhteyttä | Lähetä palautetta

Tämä kokoelma

Tekijä Nimeke Asiasana Yksikkö / Tiedekunta Oppiaine Julkaisuaika Kokoelmat

Omat tiedot

Kirjaudu sisään Rekisteröidy

Silmäile

Sisältötyyppi

vain metadata

Tieto vertaisarvioinnista

vertaisarvioitu

Vaasan yliopiston julkaisuja. Tutkimuksia

Oikeustiede

patentit -- lainsäädäntö (1)

patentointi -- Yhdysvallat -- Japani -- Kore (1)... Katso lisää Tekijä Lee, Na Ri (1)

https://osuva.uwasa.fi

Ota yhteyttä | Lähetä palautetta